Wärend der Produktioun vu Flaachbildschiermer (FPD) ginn Tester duerchgefouert fir d'Funktionalitéit vun de Paneele ze kontrolléieren an Tester fir de Produktiounsprozess ze evaluéieren.
Tester während dem Array-Prozess
Fir d'Funktioun vum Panel am Array-Prozess ze testen, gëtt den Array-Test mat engem Array-Tester, enger Array-Sond an enger Sondeeenheet duerchgefouert. Dësen Test ass entwéckelt fir d'Funktionalitéit vun TFT-Array-Schaltkreesser ze testen, déi fir Panelen op Glassubstrater geformt sinn, an all gebrach Drot oder Kuerzschlëss z'entdecken.
Gläichzäiteg, fir de Prozess am Array-Prozess ze testen, den Erfolleg vum Prozess ze kontrolléieren an de viregten Prozess Feedback ze ginn, ginn en DC-Parametertester, eng TEG-Sond an eng Sondeeenheet fir den TEG-Test benotzt. ("TEG" steet fir Test Element Group, inklusiv TFTs, kapazitiv Elementer, Drotelementer an aner Elementer vum Array-Schaltkrees.)
Testen am Eenheets-/Modulprozess
Fir d'Funktioun vum Panel am Zellprozess an am Modulprozess ze testen, goufen Beliichtungstester duerchgefouert.
De Panel gëtt aktivéiert an beliicht fir e Testmuster unzeweisen fir d'Funktioun vum Panel, Punktdefekter, Linndefekter, Chromatizitéit, chromatesch Aberratioun (Net-Uniformitéit), Kontrast, etc. ze kontrolléieren.
Et ginn zwou Inspektiounsmethoden: eng visuell Inspektioun vum Panel vum Bedreiwer an eng automatiséiert Panelinspektioun mat enger CCD-Kamera, déi automatesch Defektdetektioun an e Pass/Fail-Test duerchféiert.
Zelltester, Zellsonden a Sondeeenheeten ginn fir d'Inspektioun benotzt.
De Modultest benotzt och e Mura-Detektiouns- a Kompensatiounssystem, dat automatesch Mura oder Ongläichheeten am Display erkennt an Mura mat liichtkontrolléierter Kompensatioun eliminéiert.
Zäitpunkt vun der Verëffentlechung: 18. Januar 2022