Wärend der Fabrikatioun vu Flach Panel Display (FPD) ginn Tester gemaach fir d'Funktionalitéit vun de Panelen ze kontrolléieren an Tester fir de Fabrikatiounsprozess ze evaluéieren.
Testen wärend dem Arrayprozess
Fir d'Panelfunktioun am Arrayprozess ze testen, gëtt den Array-Test mat engem Array-Tester, eng Array-Sond an eng Sonde-Eenheet duerchgefouert.Dësen Test ass entwéckelt fir d'Funktionalitéit vun TFT Array Circuiten ze testen, déi fir Panelen op Glassubstrater geformt sinn an all futtis Drot oder Shorts z'entdecken.
Zur selwechter Zäit, fir de Prozess am Array-Prozess ze testen fir den Erfolleg vum Prozess ze kontrolléieren an de virege Prozess ze Feedback, ginn en DC Parameter Tester, TEG Sonde an Sonde Eenheet fir den TEG Test benotzt.("TEG" steet fir Test Element Group, dorënner TFTs, capacitive Elementer, Drot Elementer, an aner Elementer vun der Array Circuit.)
Testen an Eenheet / Modul Prozess
Fir d'Panelfunktioun am Zellprozess a Modulprozess ze testen, goufen Beliichtungstester duerchgefouert.
De Panel ass aktivéiert a beliicht fir en Testmuster ze weisen fir d'Paneloperatioun, Punktdefekter, Linndefekter, Chromatizitéit, chromatesch Aberratioun (Net-Uniformitéit), Kontrast, etc.
Et ginn zwou Inspektiounsmethoden: Bedreiwer visuell Panelinspektioun an automatiséiert Panelinspektioun mat enger CCD Kamera déi automatesch Defekterkennung a Pass / Echec Test mécht.
Zell Tester, Zell Sonden a Sonde Eenheeten gi fir Inspektioun benotzt.
De Modul Test benotzt och e Mura Detectioun a Kompensatiounssystem, deen automatesch Mura oder Ongläichheeten am Display erkennt an Mura mat liicht kontrolléierter Kompensatioun eliminéiert.
Post Zäit: Jan-18-2022