Am Beräich vun der Präzisiounsmiessung ass de Profilometer dat zentralt Ausrüstung fir héichpräzis Daten ze kréien, an d'Basis, als Schlësselkomponent vum Profilometer, beaflosst seng Fäegkeet, elektromagnetesch Stéierungen ze widderstoen, direkt d'Genauegkeet vun de Miessresultater. Ënnert de verschiddene Basismaterialien si Granit a Goss relativ heefeg Wiel. Am Verglach mat Goss-Profilometerbasen hunn Granit-Profilometerbasen bedeitend Virdeeler bei der Eliminatioun vun elektromagnetesche Stéierungen gewisen a si sinn eng ideal Wiel fir héichpräzis Miessunge ginn.
Den Afloss vun elektromagneteschen Interferenzen op d'Miessung vu Profilometer
Am modernen industrielle Ëmfeld sinn elektromagnetesch Stéierungen iwwerall. Vun der elektromagnetescher Stralung, déi duerch grouss Ausrüstung generéiert gëtt, déi an der Werkstatt funktionéieren, bis zu den Signalstéierungen vun elektroneschen Apparater an der Ëmgéigend: soubal dës Stéierungssignaler de Profilometer beaflossen, verursaache se Ofwäichungen a Schwankungen an de Miessdaten a féieren souguer zu enger falscher Bewäertung vum Miessungssystem. Bei Konturmiessungen, déi Präzisioun op Mikrometer- oder souguer Nanometerniveau erfuerderen, kënnen och schwaach elektromagnetesch Stéierungen dozou féieren, datt d'Miessresultater un Zouverlässegkeet verléieren, wat d'Produktqualitéit an d'Produktiounseffizienz beaflosst.
D'Problem vun der elektromagnetescher Interferenz vun der Profilometerbasis aus Goss
Goss ass e traditionellt Material fir d'Fabrikatioun vu Basen a gëtt wäit verbreet benotzt wéinst senge relativ niddrege Käschten a sengem ausgereiften Gossprozess. Goss huet awer eng gutt elektresch Leetfäegkeet, wat et an engem elektromagneteschen Ëmfeld ufälleg fir elektromagnetesch Induktioun mécht. Wann dat elektromagnetescht Feld, dat vun der externer elektromagnetescher Interferenzquell ausgestraalt gëtt, op de Gossbasis wierkt, gëtt en induzéierte Stroum an der Basis generéiert, wouduerch en elektromagnetesche Wirbelstroum entsteet. Dës elektromagnetesch Wirbelstréim generéieren net nëmmen sekundär elektromagnetesch Felder, déi d'Miesssignaler vum Profilometer stéieren, mä verursaachen och datt d'Basis sech erhëtzt, wat zu enger thermescher Deformatioun féiert an d'Miessgenauegkeet weider beaflosst. Zousätzlech ass d'Struktur vum Goss relativ locker a kann elektromagnetesch Signaler net effektiv ofschützen, soudatt elektromagnetesch Interferenzen einfach an de Basis andrénge kënnen an d'intern Miesskreesser interferéiere kënnen.
De Virdeel vun der Eliminatioun vun elektromagneteschen Interferenzen vun der Granitprofilometerbasis
Natierlech Isolatiounseigenschaften
Granit ass eng Zort Natursteen. Seng intern Mineralkristaller si fest kristalliséiert an d'Struktur ass dicht. Et ass e gudden Isolator. Am Géigesaz zu Goss ass Granit bal net leetend, dat heescht, datt et keng elektromagnetesch Wirbelstréim an engem elektromagneteschen Ëmfeld generéiert, wouduerch d'Interferenzproblemer, déi duerch elektromagnetesch Induktioun verursaacht ginn, grondsätzlech vermeit ginn. Wann dat externt elektromagnetescht Feld op de Granitfundament wierkt, kann dat elektromagnetescht Feld wéinst senge isoléierende Eegeschafte keng Schleif an der Basis bilden, wouduerch d'Interferenz um Profilometer-Miessungssystem staark reduzéiert gëtt.
Excellent Abschirmungsleistung
Déi dicht Struktur vum Granit gëtt him eng gewëssen elektromagnetesch Abschirmungsfäegkeet. Och wann de Granit keng elektromagnetesch Signaler komplett blockéiere kann, wéi Metallabschirmungsmaterialien, kann en elektromagnetesch Signaler duerch seng eege Struktur streien an absorbéieren, wouduerch d'Intensitéit vun der elektromagnetescher Interferenz schwächt. Zousätzlech kann de Granitprofilometer a prakteschen Uwendungen och mat speziellen elektromagnetesche Abschirmungsdesignen kombinéiert ginn, wéi zum Beispill eng Metallabschirmungsschicht, fir säin elektromagneteschen Abschirmungseffekt weider ze verbesseren an eng méi stabil Aarbechtsëmfeld fir de Miessungssystem ze bidden.
Stabil physikalesch Eegeschaften
Nieft der direkter Eliminatioun vun elektromagneteschen Interferenzen droen déi stabil physikalesch Eegeschafte vum Granit och indirekt dozou bäi, d'Anti-Interferenzfäegkeet vum Profilometer ze verbesseren. Granit huet en extrem niddrege Koeffizient vun der thermescher Ausdehnung a verännert sech kaum dimensional. Dëst bedeit, datt a Fäll, wou elektromagnetesch Interferenzen lokal Temperaturännerunge verursaache kënnen, d'Granitbasis ëmmer nach eng stabil Form a Gréisst behalen kann, wouduerch d'Genauegkeet vun der Miessreferenz garantéiert gëtt an zousätzlech Miessfeeler duerch Basisdeformatioun vermeit ginn.
Hautdesdaags, am Sträife no héichpräzisen Miessungen, si Granitprofilometerbasen, mat hiren natierlechen Isolatiounseigenschaften, exzellenter Abschirmungsleistung a stabile physikalesche Eegeschaften, däitlech besser wéi Goss-Profilometerbasen wat d'Eliminatioun vun elektromagneteschen Interferenzen ugeet. D'Wiel vun engem Profilometer mat enger Granitbasis kann eng stabil a präzis Miessung a komplexen elektromagneteschen Ëmfeld garantéieren, wat zouverlässeg Miessgarantien fir Industrien mat extrem héije Präzisiounsufuerderungen, wéi z. B. d'Elektronikproduktioun, d'Prezisiounsmechanikveraarbechtung an d'Loft- a Raumfaart, bitt an hëlleft Entreprisen, d'Produktqualitéit an d'Kompetitivitéit ze verbesseren.
Zäitpunkt vun der Verëffentlechung: 12. Mee 2025