Granitkomponenten gi wäit verbreet am Beräich vun der Präzisiounsfabrikatioun benotzt, woubäi d'Flaachheet als Schlësselindikator direkt hir Leeschtung a Produktqualitéit beaflosst. Hei ass eng detailléiert Aféierung an d'Method, d'Ausrüstung an de Prozess fir d'Flaachheet vu Granitkomponenten ze detektéieren.
I. Detektiounsmethoden
1. Interferenzmethod mat flaache Kristaller: gëeegent fir d'Detektioun vun der Flaachheet vu Granitkomponenten mat héijer Präzisioun, wéi z. B. Basis vun opteschen Instrumenter, ultrapräzis Miessplattformen, etc. De flaache Kristall (optescht Glaselement mat ganz héijer Flaachheet) ass enk mat der Granitkomponent, déi op der Fläch iwwerpréift soll ginn, befestegt, andeems de Prinzip vun der Liichtwelleninterferenz benotzt gëtt. Wann d'Liicht duerch de flaache Kristall an d'Uewerfläch vun der Granitkomponent geet, fir Interferenzsträifen ze bilden. Wann d'Fläch vum Element perfekt flaach ass, sinn d'Interferenzfransen parallel riicht Linnen mat gläichem Ofstand; wann d'Fläch konkav a konvex ass, béien an deforméieren sech d'Fransen. Jee no Biegungsgrad an Ofstand vun de Fransen gëtt de Flaachheetsfehler mat der Formel berechent. D'Genauegkeet kann bis zu Nanometer sinn, an déi kleng Flächenofwäichung kann präzis detektéiert ginn.
2. Elektronesch Niveaumiessmethod: dacks a grousse Granitkomponenten, wéi Maschinnebetter, grouss Portalveraarbechtungsplattformen, etc. benotzt. Den elektronesche Waasserwaag gëtt op d'Uewerfläch vum Granitkomponent placéiert fir de Miesspunkt ze wielen an sech laanscht de spezifesche Miesswee ze beweegen. Den elektronesche Waasserwaag moosst d'Ännerung vum Wénkel tëscht sech selwer an der Schwéierkraaftrichtung a Echtzäit iwwer den internen Sensor a konvertéiert se an d'Niveauofwäichungsdaten. Beim Miessen ass et néideg e Miessraster ze konstruéieren, Miesspunkten op enger bestëmmter Distanz an der X- an Y-Richtung ze wielen an d'Donnéeë vun all Punkt opzehuelen. Duerch d'Analyse vun der Datenveraarbechtungssoftware kann d'Uewerflächenflaachheet vun de Granitkomponenten ugepasst ginn, an d'Miessgenauegkeet kann e Mikrometerniveau erreechen, wat d'Bedierfnesser vun der grousser Flaachheetsdetektioun vu Komponenten an de meeschte industrielle Szenen erfëlle kann.
3. CMM-Detektiounsmethod: Eng ëmfaassend Flaachheetsdetektioun kann op komplex geformte Granitkomponenten duerchgefouert ginn, wéi zum Beispill Granitsubstrat fir speziell geformte Formen. De CMM beweegt sech am dräidimensionale Raum duerch d'Sond a beréiert d'Uewerfläch vum Granitkomponent fir d'Koordinaten vun de Miesspunkten ze kréien. D'Miesspunkten sinn gläichméisseg op der Komponentebene verdeelt, an e Miessgitter gëtt gebaut. Den Apparat sammelt automatesch Koordinatendaten vun all Punkt. D'Benotzung vu professioneller Miesssoftware, baséiert op de Koordinatendaten fir de Flaachheetsfehler ze berechnen, kann net nëmmen d'Flaachheet detektéieren, mee och d'Toleranz vun der Gréisst, der Form an der Positioun vun de Komponenten an aner multidimensional Informatiounen kréien. D'Miessgenauegkeet no der Genauegkeet vum Apparat variéiert, allgemeng tëscht e puer Mikrometer an Zénger Mikrometer, héich Flexibilitéit, gëeegent fir eng Vielfalt vun Aarte vun der Detektioun vu Granitkomponenten.
II. Virbereedung vun der Testausrüstung
1. Héichpräzis Flachkristall: Wielt de entspriechende Präzisiouns-Flachkristall no den Ufuerderunge fir d'Detektiounsgenauegkeet vu Granitkomponenten, wéi zum Beispill muss d'Detektioun vun der Nanoskala-Flaachheet e superpräzise Flachkristall mat engem Flachheetsfehler bannent e puer Nanometer wielen, an den Duerchmiesser vum Flachkristall soll liicht méi grouss sinn wéi déi minimal Gréisst vun der Granitkomponent, déi iwwerpréift soll ginn, fir eng komplett Ofdeckung vum Detektiounsberäich ze garantéieren.
2. Elektronesch Waasserwaag: Wielt eng elektronesch Waasserwaag, där hir Miessgenauegkeet den Detektiounsufuerderunge entsprécht, wéi zum Beispill eng elektronesch Waasserwaag mat enger Miessgenauegkeet vun 0,001 mm/m, déi fir héichpräzis Detektioun gëeegent ass. Gläichzäiteg gëtt eng passend Magnéitdëschbasis virbereet, fir datt d'elektronesch Waasserwaag fest op der Uewerfläch vum Granitkomponent adsorbéiert, souwéi Datenerfassungskabelen a Computer-Datenerfassungssoftware, fir Echtzäit-Opzeechnung an -veraarbechtung vun de Miessdaten z'erreechen.
3. Koordinatenmiessinstrument: Jee no der Gréisst vun de Granitkomponenten an der Komplexitéit vun der Form, fir déi passend Gréisst vum Koordinatenmiessinstrument ze wielen. Grouss Komponenten erfuerderen grouss Hubmesser, während komplex Formen Ausrüstung mat héichpräzisen Sonden a mächteg Miesssoftware erfuerderen. Virun der Detektioun gëtt de CMM kalibréiert fir d'Genauegkeet vun der Sonde an d'Genauegkeet vun der Koordinatenpositionéierung ze garantéieren.
III. Testprozess
1. Prozess vun der Interferometrie mat flaache Kristaller:
◦ Botzt d'Uewerfläch vun de Granitkomponenten, déi iwwerpréift solle ginn, an déi flaach Kristalloberfläche. Wëscht se mat wasserfreiem Ethanol of, fir Stëbs, Ueleg an aner Ongereimtheeten ze entfernen, fir sécherzestellen, datt déi zwee enk zesummepassen an ouni Spalten.
Leet de flaache Kristall lues op d'Uewerfläch vum Granitdeel a dréckt liicht, fir datt déi zwee voll Kontakt matenee hunn, fir Blasen oder Kippung ze vermeiden.
◦ An enger Däischterkammerumgebung gëtt eng monochromatesch Liichtquell (wéi eng Natriumlampe) benotzt fir de flaache Kristall vertikal ze beliichten, d'Interferenzfranje vun uewen ze observéieren an d'Form, d'Richtung an de Grad vun der Krümmung vun de Franje festzehalen.
◦ Baséierend op den Interferenzfranndaten, berechent de Flaachheetsfehler mat der jeeweileger Formel a vergläicht en mat den Ufuerderunge fir d'Flaachheetstoleranz vum Baudeel fir festzestellen, ob et qualifizéiert ass.
2. Elektronesch Niveaumessungsprozess:
◦ E Moossraster gëtt op der Uewerfläch vum Granitkomponent gezeechent fir d'Plaz vum Moosspunkt ze bestëmmen, an den Ofstand vun den Nopeschmoosspunkten gëtt raisonnabel no de Gréisst- a Genauegkeetsufuerderunge vum Komponent festgeluecht, am Allgemengen 50-200 mm.
◦ Installéiert eng elektronesch Waasserwaag op enger magnetescher Dëschbasis a befestegt se um Startpunkt vum Moossraster. Start d'elektronesch Waasserwaag a notéiert déi initial Nivellitéit, nodeems d'Donnéeë stabil sinn.
◦ Beweegt den elektronesche Waasserwaagpunkt Punkt fir Punkt laanscht de Miesswee a notéiert d'Niveaudaten un all Miesspunkt, bis all Miesspunkte gemooss sinn.
◦ Importéiert déi gemoossen Donnéeën an d'Datenveraarbechtungssoftware, benotzt d'Method vun de klengste Quadraten an aner Algorithmen fir d'Flaachheet unzepassen, generéiert de Flaachheetsfehlerrapport a bewäert ob d'Flaachheet vum Baudeel dem Standard entsprécht.
3. Detektiounsprozess vum CMM:
◦ Leet de Granitkomponent op den CMM-Aarbechtsdësch a benotzt d'Befestigung fir en fest ze fixéieren, fir sécherzestellen, datt de Komponent sech während der Miessung net verréckelt.
◦ Jee no Form a Gréisst vum Baudeel gëtt de Miesswee an der Miesssoftware geplangt, fir d'Verdeelung vun de Miesspunkten ze bestëmmen, wouduerch eng voll Ofdeckung vun der ze iwwerpréiwter Fläch an eng gläichméisseg Verdeelung vun de Miesspunkten garantéiert sinn.
◦ Start de CMM, beweegt d'Sond no dem geplangte Wee, beréiert d'Miesspunkte vun der Uewerfläch vun der Granitkomponent a sammelt automatesch d'Koordinatendaten vun all Punkt.
◦ Nodeems d'Miessung ofgeschloss ass, analyséiert an veraarbecht d'Miesssoftware déi gesammelt Koordinatendaten, berechent de Flaachheetsfehler, generéiert e Testbericht a bestëmmt ob d'Flaachheet vum Baudeel dem Standard entsprécht.
If you have better advice or have any questions or need any further assistance, contact us freely: info@zhhimg.com
Zäitpunkt vun der Verëffentlechung: 28. Mäerz 2025