Europas gréisst M2 CT-System am Bau

Déi meescht industriell CT hunnGranitstrukturMir kënnen hierstellenBasis vun der Granitmaschinn mat Schinnen a Schrauwenfir Är personaliséiert Röntgen- an CT-Untersuchung.

Optotom an Nikon Metrology hunn d'Ausschreiwung fir d'Liwwerung vun engem grouss-ëmfaassen Röntgen-Computertomographie-System un d'Technesch Universitéit Kielce a Polen gewonnen. Den Nikon M2-System ass en héichpräzis, modulares Inspektiounssystem mat engem patentéierten, ultrapräzisen an stabile 8-Achs-Manipulator, deen op enger metrologescher Granitbasis gebaut ass.

Jee no der Uwendung kann de Benotzer tëscht 3 verschiddene Quellen wielen: Nikon seng eenzegaarteg 450 kV Mikrofokusquell mat rotéierendem Zil fir grouss a héichdichteg Proben mat Mikrometeropléisung ze scannen, eng 450 kV Minifokusquell fir High-Speed-Scannen an eng 225 kV Mikrofokusquell mat rotéierendem Zil fir méi kleng Proben. De System gëtt souwuel mat engem Flachbilddetektor wéi och mam Nikon proprietäre Curved Linear Diode Array (CLDA) Detektor ausgestatt, deen d'Sammlung vun Röntgenstralen optimiséiert, ouni déi ongewollt gestreet Röntgenstralen opzefänken, wat zu enger iwwerraschender Bildschärft a Kontrast féiert.

Den M2 ass ideal fir d'Inspektioun vun Deeler, déi a Gréisst reechen, vu klenge Prouwe mat gerénger Dicht bis zu grousse Materialien mat héijer Dicht. D'Installatioun vum System fënnt an engem speziell dofir gebauten Bunker statt. Déi 1,2 m grouss Maueren si scho fir zukünfteg Upgrades op méi héich Energieberäicher virbereet. Dëst Volloptiounssystem wäert ee vun de gréissten M2-Systemer op der Welt sinn a bitt der Universitéit Kielce extrem Flexibilitéit fir all méiglech Uwendungen aus der Fuerschung an der lokaler Industrie z'ënnerstëtzen.

 

Basis Systemparameter:

  • 450kV Minifokus Stralungsquell
  • 450kV Mikrofokus-Stralungsquell, Typ "Rotéierend Zil"
  • 225 kV Stralungsquell vum Typ "Rotating Target"
  • 225 kV "Multimetal Zil" Stralungsquell
  • Nikon CLDA Lineardetektor
  • Paneldetektor mat enger Opléisung vun 16 Millioune Pixel
  • d'Méiglechkeet fir Komponenten bis zu 100 kg ze testen

Zäitpunkt vun der Verëffentlechung: 25. Dezember 2021